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QCM-I石英晶体微天平的操作流程与实验方法指南

点击次数:93 更新时间:2024-04-03
   QCM-I石英晶体微天平是一种常用的实验室仪器,用于测量样品的质量变化。其工作原理基于石英晶体的压电效应,通过测量晶体振荡频率的变化来计算样品的质量变化。
 
  一、操作流程
  1.准备样品:根据实验目的准备合适的样品,确保样品与QCM-I石英晶体微天平的兼容性。
 
  2.预热仪器:将它连接至电源,预热15-30分钟,确保仪器稳定。
 
  3.安装晶体:将石英晶体安装到仪器的晶体夹具上,确保晶体与夹具接触良好,无松动现象。
 
  4.调整晶体频率:通过仪器面板上的调节旋钮,将晶体的振荡频率调整至预定值。
 
  5.仪器校准:在未加载样品的情况下,记录晶体振荡频率,作为实验前的基准值。
 
  6.加载样品:将样品缓慢地滴加到石英晶体表面,确保样品均匀分布在晶体表面。
 
  7.观察和记录数据:在加载样品后,继续观察晶体振荡频率的变化,记录数据。当频率变化稳定后,可计算样品的质量变化。
 
  8.实验结束:实验完成后,将晶体从仪器上取下,清洗并干燥,以备下次使用。
 QCM-I石英晶体微天平
  二、实验方法
  1.单点测量法:在实验过程中,只使用一个频率点进行测量。此方法适用于测量质量变化较大的样品。
 
  2.双点测量法:在实验过程中,使用两个频率点进行测量,通过计算频率差来消除温度和其他因素的影响。此方法适用于测量质量变化较小的样品。
 
  3.三点测量法:在实验过程中,使用三个频率点进行测量,通过计算频率差来消除温度和其他因素的影响。此方法适用于测量质量变化较小的样品,具有更高的精度。
 
  三、注意事项
  在使用QCM-I石英晶体微天平时,应注意以下几点:
  1.避免晶体受损:在安装和取下晶体时,应小心操作,避免晶体受损。
 
  2.避免样品污染:在加载样品时,应避免样品污染晶体和仪器其他部分。
 
  3.保持仪器清洁:实验结束后,应清洗并干燥晶体,保持仪器的整洁。
 
  4.避免过载:在加载样品时,应避免超过晶体的承载能力,以免损坏晶体。
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